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透皮乳膏粒度儀，ZML310透皮乳膏粒度晶型分析儀是采用顯微鏡圖像法測量顆粒粒度大小、形狀特征、顆粒表面顏色的顆粒分析系統(tǒng)。設(shè)備由顯微鏡、高分辨率數(shù)字攝像機、分析軟件、計算機等部分組成。其工作原理是通過專用高分辨率數(shù)字攝像機和光學顯微鏡，將顆粒圖像拍攝下來并傳輸?shù)接嬎銠C中，用專門的顆粒圖像分析軟件對顆粒圖像進行分析，并通過顯示器和打印機輸出分析結(jié)果。該儀器具有直觀、可視、準確、測試。

Spraylink高速噴霧粒度儀擁有10KHz的數(shù)據(jù)采集速率，能夠完成每秒10000次噴霧粒徑測量，從而動態(tài)捕捉0.1毫秒時間間隔的顆粒粒度分布。

ZS920動態(tài)光散射納米粒度儀及zeta電位分析儀：當激光照射到分散于液體介質(zhì)中的微小顆粒時，由于顆粒的布朗運動引起散射光的頻率偏移，導(dǎo)致散射光信號隨時間發(fā)生動態(tài)變化，該變化的大小與顆粒的布朗運動速度有關(guān)，而顆粒的布朗運動速度又取決于顆粒粒徑的大小，顆粒大布朗運動速度低，反之顆粒小布朗運動速度高。

LS13 320 全新微納米激光粒度分析儀應(yīng)用顆粒光散射原理,據(jù)光學理論推算顆粒粒度分布，主要適用于粉體或各種材料顆粒粒度分析，其特點是粒度分析動態(tài)范圍寬、分辨能力高、操作簡便快捷、自動化程度高，可廣泛應(yīng)用于質(zhì)量控制實驗室、質(zhì)量控制部門以及其他粒度分析領(lǐng)域。

高分辨率zeta電位分析儀WALLISζ是一種創(chuàng)新的zeta電位分析儀，專門用于表征納米顆粒懸浮液。它基于重新審視的現(xiàn)代版激光多普勒電泳（LDE）技術(shù)，提供*的測量分辨率。它是Cordouan的VASCO粒度分析儀的補充，用于研究膠體溶液的穩(wěn)定性和性質(zhì)。

zeta電位分析儀-顯微成像法采取具有角度尋徑分辨率的高精度圖像分析方案，在垂直平面內(nèi)測量懸濁液中顆粒的電泳遷移率分布。1、 一種模塊化工具，用于解決測量從10nm到50μm顆粒的電泳遷移率所遇到的所有問題，并計算膠體懸浮液的zeta電位。2、激光照明和視頻接口能實現(xiàn)亞微米粒子的測量。3、石英測量池組裝了兩對鈀電極，構(gòu)成對稱的腔室。

zeta電位分析儀-流動電位法是用多孔塞技術(shù)直接測定流動電位/流動電流的Zeta電位分析儀。該技術(shù)適用于50µm以上的大顆粒、纖維和平坦的表面，或在一個壓力梯度下電解質(zhì)可以透過的曲面膜或中空纖維樣品。